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北師大光電UV-A型雙通道紫外輻照計

簡要描述：北師大光電UV-A型雙通道紫外輻照計，采用SMT貼片技術，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

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品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產地類別國產應用領域環(huán)保,農業(yè),地礦,建材,綜合

北師大光電UV-A型雙通道紫外輻照計產品簡介：

UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，

探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。

適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。


產品特點：

光譜及角度特性經嚴格校正;

數(shù)字液晶顯示，帶背光;

手動/自動量程切換;

數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電);

低電量提醒;

自動延時關機;

有數(shù)字保持;

輕觸按鍵操作，蜂鳴提示。


北師大光電UV-A型雙通道紫外輻照計技術參數(shù)：

項目

參數(shù)

備注

波長范圍λ1，峰值波長λp

（320～400）nm，λP＝365nm

用戶二選一

波長范圍λ2，峰值波長λp

（375～475）nm，λP＝420nm

輻照度測量范圍

(0.1～199.9×103) μW/cm2


紫外帶外區(qū)雜光

0.02%


相對示值誤差

±8％（相對于NIM標準）


角度響應特性

±5% （α≤10°）


線性誤差

±1%


換檔誤差

±1%


短期不穩(wěn)定性

±1%（開機30min后）


疲勞特性

衰減量<2%


零值誤差

滿量程的±1%


響應時間

<1秒


使用環(huán)境

溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH


尺寸和重量

160mm×78mm×43mm；0.2kg


電源

6F22型9V積層電池（非充電電池）


整機功耗

＜0.1VA




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